[1] Physical Acoustics, Principles and Methods / Ed. By W. Mason. Vol. III, Part A. The Effect of Imperfections - New – York, 1966, - 578 p.
[2] G. A. Malygin. UFN 169, 979 (1999). http://dx.doi.org/10.3367/UFNr.0169.199909c.0979.
[3] G.A. Malygin Phys. Solid State 47, 632 (2005) http://dx.doi.org/10.1134/1.1913972
[4] L. J. Teutonico, F, V. Granato, K. Lucke. Jour. Appl. Phys. 35, 220 (1964) http://dx.doi.org/10.1063/1.1713074
[5] Y. Kawasaki. J. Phys. Soc. Jpn. 36, 142 (1974). http://dx.doi.org/10.1143/JPSJ.36.142.
[6] Т. Хайдаров, И. Хидиров. Металлофизика 13, 11, 120 (1991).
[7] Y. Hiki. Journ. Phys. Soc. Japan. 13, 1138 (1958). http://dx.doi.org/10.1143/JPSJ.13.1138
[8] А. В. Олейнич – Лысюк. ФТТ 44, 6, 1053 (2002).
[9] И. Хидиров, Д. И. Сотволдиев, С. З. Зайнобиддинов, К. О. Бахтибаев. ДАН РУз 6, 67(2008)
[10] В. М. Баранов. Акустические измерения в ядерной энергетике - М. Энергоатомиздат. 1990. - стр. 320.
[11] J. V. Sharp. Philos. Mag. 16. 96 (1967). http://dx.doi.org/10.1080/14786436708229258
[12] A.R. Velihanov, FTP. V. 44, I.12. p. 145–148. (2010)
[13] Ravi K. V. Imperfections and Impurities in Semiconductor Silicon / New - Y – Toronto, 1981,- 472.
[14] M. Victoria, N. Baluc, C. Bailat, Y.Dai, M.I. Luppo, R. Shaublin, B.N. Singh. J. Nucl. Mater. 276, 114 (2000). http://dx.doi.org/10.1016/S0022-3115(99)00203-2